可検出性テスト
[k, [n [,U [,Sld ] ] ]]=dt_ility(Sl [,tol])
線形システム (syslin リスト)
不可観測な部分空間の次元
不安定かつ不可観測な部分空間の次元 (k<=n).
直交行列
線形システム (syslin リスト)
可制御性テストの閾値.
状態空間表現の線形システム
slの可検出性テスト.
U は基数で,
その最初のk列にSlの
不安定かつ不可検出な部分空間
((A,C)の不可観測な部分空間と
Aの不安定な部分空間の共通集合)
が広がります.
可検出性は,k=0を意味します.
Sld = (U'*A*U,U'*B,C*U,D) は,
Sl=(A,B,C,D)の"可検出な部分" を
以下のように表示します.
(A33,C3)は可観測 (nx-n次),
A22 は可安定,
( n-k次) ,
A11 は不可安定 ( k次)です.